Od poloviny července mají vědci k dispozici nové zařízení rozšiřující dosavadní diagnostické možnosti při procesu nanášení tenkých vrstev. RFEA (Retarding Field Energy Analyser) umožňuje časově rozlišená měření dopadajících iontů například právě při magnetronovém naprašováni tenkých vrstev.
Výzkumná skupina Depozice tenkých vrstev a nanostruktur má k dispozici nový přístroj rozšiřující dosavadní diagnostické možnosti při procesu nanášení tenkých vrstev. Jedná se o zařízení RFEA (Retarding Field Energy Analyser) od firmy Impedans Plasma Measurement z Irska.
Přístroj slouží k diagnostice depozičních procesů pomocí časově rozlišeného měření toku dopadajících iontů. Podobně jako hmotnostní spektroskopie dokáže získat s vysokou přesností jak energiové rozdělení, tak i celkový tok iontů, ale samotné druhy částic nerozliší. S pomocí dalších zařízení, jako je QCM s předpětím či Langmuirova sonda, nyní vědci dokážou provést komplexní diagnostiku iontů, jejichž vlastnosti jsou klíčové k růstu vysoce kvalitních tenkých vrstev pomocí magnetronového naprašování.
Jak doplňuje Mgr. Peter Klein, Ph.D., „toto nové zařízení přináší nové možnosti v diagnostice plazmatu. Svojí kompaktností a jednoduchostí použití je vhodné pro všechny druhy depozičních zařízení a zkoumaných metod příprav tenkých vrstev včetně HiPIMS.“
V rámci projektu MOBILITY už podruhé na Ústav fyzikální elektroniky přijel francouzský doktorský student Corentin Bajon. Věnuje se studiu dielektrického bariérového výboje v atmosféře oxidu uhličitého a studuje různé reakční mechanismy tohoto výboje.
Děkan Tomáš Kašparovský slavnostně předal ocenění nejlepším studentům Přírodovědecké fakulty MU. Z Ústavu fyzikální elektroniky byli oceněni Bc. Kristína Tomanková a Mgr. Michal Kroker, Ph.D.. Z Ústavu teoretické fyziky a astrofyziky byl oceněn Mgr. Martin Piecka, Ph.D..
