Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
Výzkumná skupina Ústavu fyzikální elektroniky
Elipsometrie
![Bez popisku](https://cdn.muni.cz/media/3383086/uvisel.jpg?mode=crop¢er=0.54,0.5&rnd=132884471760000000&width=476)
Horiba Jobin Yvon UVISEL
- spektrální rozsah: 0.6 - 6.5 eV
- úhly dopadu v rozmezí 55° - 90°
- X-Y mapovací stolek
![Bez popisku](https://cdn.muni.cz/media/3383082/ir.jpg?mode=crop¢er=0.5,0.5&rnd=132884471710000000&width=476)
Woollam IR-VASE
- spektrální rozsah: 300 - 6500 cm-1
- úhly dopadu v rozmezí 25° - 90°
- možnost měření v transmisním módu
![Bez popisku](https://cdn.muni.cz/media/3383078/vuv.jpg?mode=crop¢er=0.5,0.5&rnd=132884471670000000&width=476)
Horiba Jobin Yvon UVISEL2 VUV
- spektrální rozsah: 0.6 - 8.5 eV
- fixní úhel dopadu 70°
- měření ve vakuu
- možnost vyhřívání vzorku
Spektrofotometrie
![Bez popisku](https://cdn.muni.cz/media/3383080/lambda.jpg?mode=crop¢er=0.5,0.5&rnd=132884471690000000&width=476)
Perkin Elmer Lambda 1050
- spektrální rozsah 0.38-6.6 eV
- držák pro kolmý dopad pro měření propustnosti
- reflexní přístavek pro úhel dopadu 6°
![Bez popisku](https://cdn.muni.cz/media/3383084/bruker.jpg?mode=crop¢er=0.5,0.5&rnd=132884471730000000&width=476)
Bruker Vertex 80v
- spektrální rozsah 70 - 7000 cm-1
- držák pro měření propustnosti při kolmém dopadu
- reflexní přístavek pro úhel dopadu 7°
- měření ve vakuu