Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek

Výzkumná skupina Ústavy fyziky a technologií plazmatu

Výzkumná skupina Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek ÚFTP je součástí centra CEPLANT. Zabýváme se optickými vlastnostmi systémů tenkých vrstev a povrchů pevných látek spolu s optickou charakterizací těchto systémů. Jde například o vrstvy připravené plazmochemickými metodami, pomocí magnetronového naprašování nebo pomocí vakuového napařování.

Vytváříme a formulujeme nové disperzní a strukturní modely, které pak používáme při optické charakterizaci. Strukturní modely obsahují defekty jako náhodná drsnost rozhraní, nehomogenita vrstev, tloušťková neuniformita, přechodové mezivrstvy a další. Naše optická laboratoř je vybavena spektrofotometry a elipsometry pokrývající širokou spektrální oblast od vzdálené infračervené oblasti až po vakuovou ultrafialovou oblast.

Bez popisku
Náš tým

Bez popisku

prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

vedoucí výzkumné skupiny
Scopus Author ID: 7006927546

549 49 6244
ohlidal(zavináč)sci.muni.cz

kancelář: pav. 06/01031
Kotlářská 267/2
611 37 Brno

Načítám mapu…

Bez popisku

Mgr. Jiří Vohánka, Ph.D.

Scopus Author ID: 35231410500

549 49 3357
vohanka(zavináč)physics.muni.cz

Bez popisku

Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

Scopus Author ID: 22946971100

549 49 3836
dfranta(zavináč)sci.muni.cz

Bez popisku

Mgr. Jan Dvořák, Ph.D.

Scopus Author ID: 57206782608

549 49 3357
jdvorak(zavináč)physics.muni.cz

Bez popisku

Ing. Pavel Franta

technik

549 49 3709
pfranta(zavináč)mail.muni.cz

Vybavení

Elipsometrie

Spektrofotometrie​

Bez popisku
Horiba Jobin Yvon UVISEL
  • spektrální rozsah: 0.6 - 6.5 eV
  • úhly dopadu v rozmezí 55° - 90°
  • X-Y mapovací stolek
Bez popisku
Perkin Elmer Lambda 1050+
  • spektrální rozsah 0.38-6.6 eV
  • měření propustnosti vrstevnatých systémů
  • reflexní přístavky pro měření odrazivosti pod téměř kolmým úhlem dopadu (6°)
  • měření propustnosti tekutin v kyvetách
  • URA detektor pro měření odrazivosti pod různými úhly dopadu (8°-65°)
Bez popisku
Woollam IR-VASE
  • spektrální rozsah: 300 - 6500 cm-1
  • úhly dopadu v rozmezí 25° - 90°
  • možnost měření v transmisním módu
Bez popisku
Bruker Vertex 80v
  • spektrální rozsah 70 - 7000 cm-1
  • držák pro měření propustnosti při kolmém dopadu
  • reflexní přístavek pro úhel dopadu 7°
  • měření ve vakuu
Bez popisku
Horiba Jobin Yvon UVISEL2 VUV
  • spektrální rozsah: 0.6 - 8.5 eV
  • fixní úhel dopadu 70°
  • měření ve vakuu
  • možnost vyhřívání vzorku
Spolupráce

Bez popisku

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Berlín, Německo

 

Bez popisku

Český metrologický institut

Brno, Česká republika

 

Bez popisku

Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik

Jena, Německo

 

Bez popisku

Fakulta strojního inženýrství - Vysoké učení technické v Brně

Brno, Česká republika

 

Bez popisku

Centrum HiLASE, Fyzikální ústav AV ČR

Dolní Břežany, Česká republika

 

Bez popisku

Friedrich-Schiller-Universität

Jena, Německo

 

Bez popisku

Johannes Kepler Universität Linz

Linec, Rakousko

 

Bez popisku

LENA Laboratory for Emerging Nanometrology, Technische Universität Braunschweig

Braunschweig, Německo

 

Bez popisku

Meopta - optika, s.r.o.

Přerov, Česká republika

 

Bez popisku

Physikalisch-Technische Bundesanstalt

Braunschweig, Německo

 

Bez popisku

TTS, s.r.o. - Tenkovrstvý technologický servis

Praha, Česká republika

 

Bez popisku

Varroc Lighting Systems, s.r.o.

Nový Jičín, Česká republika

 

Studenti a absolventi

Nabízená témata závěrečných prací

  • Optická charakterizace tenkých vrstev fluoridů
  • Charakterizace náhodně drsných povrchů pomocí optických metod a mikroskopie atomové síly

Aktivní studia

Beáta Hroncová


Absolventi

Publikace

Předchozí 1 2 3 Další

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info